連續測量空氣中氡濃度，近年來發展很快。目前使用的連續氡濃度測量儀主要有三種類型。閃爍室、半導體探測器和脈沖電離室，簡列于表6-3-2。


表6-3-2 常用的連續氡濃度探測器

在我國目前最常用的是閃爍室法和雙濾膜法。
(一)閃爍室法
閃爍室是美國阿貢實驗室研究提出的。閃爍室用有機玻璃制成，外有硬鋁殼密閉，有圓柱形和球形。內壁涂有ZnS(Ag)閃爍體，容積從0.15L到0.5L不等。內有隔膜，目的在于增加ZnS(Ag)的面積，提高探測效率(圖6-3-2)。閃爍室與光電倍增管相接，組成探測器。


圖6-3-2 兩種類球形閃爍室

我國常用的閃爍室測氡儀有FD-124型和FD-3016型Rn、Tn測量儀，也可以使用閃爍室與其他實驗室放射性測量儀相接。
測量氡濃度，可以用真空法或循環法；但在取氣嘴之前應接干燥劑管，使采樣氣體先行干燥。
測量程序是：引入氡氣樣之前要先測量本底計數，然后將閃爍室抽成真空(達到1.333kPa)。應注意的是每次測量，保持一致，都要抽到同一真空度。如果是土壤或空氣中氣樣，可以直接取氣。如果是水樣，則應控制進氣速度，直到液體不冒泡為止，立即關閉閥門，封閉閃爍室，放置3h后開始測量。用下式計算氡濃度(Bq·m3)。


核輻射場與放射性勘查

式中：ks為刻度系數，通過標準樣品測量對儀器標定求出；nRn為累積3h后測量的計數率，cpm；n底為本底計數率，cpm，V為取樣器體積，m3；t為樣品累積時間，h。
(6-3-6)式為一通式，如計算樣品中鐳含量，則(6-3-6)式中可以不考慮V。若為氣體樣品，可以不考慮(
)累積因子。
(二)雙濾膜法
這是20世紀70年代興起的測氡方法。雙濾膜的基本結構如圖6-3-3所示，雙濾膜金屬管兩端各一個濾膜，體積根據測量需要可大可小，抽氣時一端為進氣口濾膜，可以濾去氣體中已有的氡子體。純氡進入管內產生新的子體，主要是218Po，其中一部分被出口濾膜接收。這些新子體，遵守固有的累積和衰減規律，所以測量出口濾膜上的α放射性活度(一般用FJ-13型α輻射儀)，即可計算氡的濃度。
測量程序基本是：先安放好濾膜，連接抽氣系統，流速q，取氣時間t。抽氣結束后，取出口濾膜進行α測量。用下式計算氡的濃度(Bq·m-3)。


圖6-3-3 雙濾膜管結構示意圖



核輻射場與放射性勘查

式中：n出、n底分別為出口濾膜α射線計數率和本底計數率(cps)；V為雙濾膜管的容積，L；Ft為濾膜包括自吸收修正在內的過濾率；ε為探測效率；Ff為新生子體到達出口濾膜的份額；B為與抽氣時間t以及抽氣時間間隔(T1～T2)有關的參數，一般可以查表(表6-3-3)得到。


表6-3-3 B值表

Ff值的大小，是考慮氡在雙濾膜管內遷移過程中，產生出新的子體。由于擴散作用，一部分在管壁上沉淀，只有一部分到達出口濾膜。Ff與μ有關，而μ與擴散系數、流速等有如下關系：
μ=πDl/q
式中：D為新生子體的擴散系數；q為氣體流速；l為管的長度。根據坦恩計算，管內流線分布特點，得出三種速率下，μ所對應的Ff值(表6-3-4)。
北京核儀器廠生產的FT-626型Rn、Tn測量儀，采樣筒38.2 L，濾膜直徑6cm，用ZnS閃爍探測器，最小可測0.75 Bq·L-1。


表6-3-4 不同μ值的Ff值

(三)氣球法
氣球法，實質上是雙濾膜法的變種。它將雙濾膜管改為一個球(圖6-3-4)。氣體入口和出口為同一通道，抽氣泵開動，充氣時入口濾膜，只讓氡氣進入氣球，在氣球內產生新的子體。排氣過程中，出口濾膜上收集到一部分新生子體，測量出口濾膜上的α活度，用下式計算氡的濃度(Bq·m-3)。
NRn=kp(nRn-n底)(6-3-8)
式中：kp為儀器刻度系數，Bq·m-3；nRn為出口濾膜α射線計數率；n底為本底計數率。
本方法使用方便，是目前礦井和環境測量中常用的方法。


圖6-3-4 氣球法測氡裝置